HCX09A薄膜熱物性測試儀

該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進行。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時的瞬態(tài)實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數(shù)或導熱系數(shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。

主要技術參數(shù)：

1.導熱系數(shù)范圍：0.05～20w/m·k

2.儀器實現(xiàn)數(shù)字化測溫，精度優(yōu)于0.2級。

3.測量結果，準確度 ±3%

4.計量加熱功率可調節(jié)±1%。

5.試樣尺寸要求：圓柱體￠15--30*5--30mm .

6.溫度和保護氣氛按用戶要求定制。

7.配接計算機實現(xiàn)全自動測試分析。